いつもお世話になっております。日本アイ・ビー・エムの太田健一郎です。
重複して受け取られた方はご容赦ください。
「IPSJ/SIGSE パターンワーキンググループ第7回勉強会のお知らせ」をご案内させて頂きます。
IPSJ/SIGSE パターンワーキンググループ第7回勉強会のお知らせ
http://patterns-wg.fuka.info.waseda.ac.jp/study/
ソフトウェアパターンについて、一緒に学んでいきませんか？
情報処理学会(IPSJ)ソフトウェア工学研究会(SIGSE)のパターンワーキング
グループでは，ソフトウェアパターンの理解を深め，パターン技術の普及や
展開をめざして，毎月勉強会を開催しています．
このたび，第7回勉強会を以下の要綱で開催することになりましたので，
ご案内いたします．
今回のテーマは，
パターン解説: 単体テストの観点からみたデザイン・パターン
です．
事前申込み不要，参加無料ですので，是非皆さんの積極的なご参加をお願いします．
日時: 2004 年 8 月 4 日(水) 19:00 - 20:50
会場: 日本アイ・ビー・エム（株）箱崎事業所
１階 AVルーム（ロビー・フロア奥）
http://www-6.ibm.com/jp/ibm/map/hakozaki.html
主催: 情報処理学会ソフトウェア工学研究会パターンワーキンググループ
参加費: 無料
参加方法:
事前の申し込みは不要です。 19:00 までに直接、会場にお越しください。
照会先: patterns-wg-seminar@....jp
プログラム コーディネータ: 太田 健一郎（日本アイ・ビー・エム）
タイトル：「単体テストの観点からみたデザイン・パターン」
発表者： 太田 健一郎（日本アイ・ビー・エム）
内容
J2EEシステムのような多数のコンポーネントから構成され，複雑化したアプリケーションの品質を保証するため
には，単体テストのレベルで欠陥を発見しておくことが重要となります。この単体テストを効果的に実施するた
めには，設計段階からテスト容易性を考慮する必要があります。
本発表では効果的な単体テストの実施とデザイン・パターンの関係について，Dependency Injection や Mock
Object といった具体的なデザイン・パターンをいくつか取り上げながら，以下の問題を考察します。
・設計の考慮点としてテスト容易性を考える場合，デザイン・パターンをテストの観点から見てみるのは有用で
はないか
・本来の意図とは異なるが，結果としてテスト容易性に役立つようなデザイン・パターンが存在するのではない
か
本発表を叩き台にして，参加者が単体テストに限らず，広く効果的なテストを実施するために工夫している点
(要件定義，分析，設計，構成管理，パターン，ツール)についてディスカッションして頂きたいと思います。
本発表でテストについて更に興味を持った方はぜひテストパターンサブタスクに参加していただけると幸いで
す。
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Kenichiroh Ohta